Всички категории
Каталог
КНИГИ
Каталог
КНИГИ

Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения (1986)

  • Издателство: Наука

Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения (1986)

  • Издателство: Наука
Цена
15,00 лв.

Експериментална електронна микроскопия с висока разделителна способност - преводна английска книга на руски език.

Автор:   Дж. Спенс
Издателство:   Наука
Език:   Руски
Раздел:   Физика и астрономия 
Година:   1986
Страници:   320
Корица:   Твърда, среден формат
Размери (мм):   145 х 220 х 17
Тегло (грама):   444
Етикет:   Приложна физика

 

Забележка: неизползвана книга с посвещение за заслуги в отлично състояние.

За учени и инженери, работещи в областта на изучаването на фината структура на различни обекти с помощта на съвременни трансмисионни електронни микроскопи с висока разделителна способност, както и за докторанти и студенти, специализиращи в тази област.

Описание
Характеристики
Условия за пазаруване
Описание +

Аннотация

Изложены теоретические и экспериментальные аспекты электронной микро­скопии высокого разрешения. Рассмотрены физические основы формирования электронно-микроскопического изображения как периодических (кристалличе­ские структуры), так и непериодических (отдельные молекулы и атомы) объек­тов, и влияние различных факторов на его разрешение.

Для научных сотрудников и инженеров, работающих в области изучения тонкой структуры различных объектов с использованием современных высоко­разрешающих просвечивающих электронных микроскопов, а также аспирантов и студентов, специализирующихся в этой области.

Табл. 6. Ил. 132. Библиогр. 283 назв.

*

ОГЛАВЛЕНИЕ
 
От редактора перевода 6
Предисловие автора к русскому изданию 8
От автора 
Введение 11
 
Глава  1.  Предварительные сведения 17
§ 1.1. Элементарные принципы фазово-контрастной микроскопии ... 19
§ 1.2. Требования, предъявляемые к приборам, и их модификации для работы с высоким разрешением 26
§ 1.3. Первые эксперименты 31
 
Глава 2. Электронная оптика 35
§ 2.1. Длина волны электронов и теория относительности 36
§ 2.2. Свойства простой линзы 39
§ 2.3. Уравнение траекторий параксиальных лучей 44
§ 2.4. Приближение постоянного поля 46
§ 2.5. Проекционные линзы 48
$ 2.6. Объективная линза 50
§ 2.7. Конструкции магнитных линз 52
§ 2.8. Аберрации 57
§ 2.9. Предполе 64
§ 2.10. Выводы 65
 
Глава 3. Волновая оптика 68
§ 3.1. Распространение электронной волны и дифракция Френеля . . 70
§ 3.2. Действие линзы и дифракционное ограничение разрешения . . 73
§ 3.3. Волновая и лучевая аберрации 78
§ 3.4. Сильные и слабые фазовые объекты 87
§ 3.5. Оптическая скамья 83
§ 3.6. Выводы 86
 
Глава 4.   Когерентность 87
§ 4.1. Независимые электроны и расчет изображения 90
§ 4.2. Когерентные и некогерентные изображения; функция затухания 91
§ 4.3. Характеристика когерентности 97
§ 4.4. Пространственная когерентность при использовании освещения в виде полого конуса 100
§ 4.5. Влияние размера источника на степень когерентности 103
§ 4.6. Требования к когерентности, предъявляемые на практике . . . 105
§ 4.7. Выводы 109 
 
Глава 5   Изображения периодических структур с высоким разрешением 111
§ 5.1. Влияние аберраций линз на изображение простых полос решетки 112
§ 5.2. Влияние расходимости падающего пучка на глубину поля при формировании изображений простых полос решетки 118
§ 5.3. Приближения для нахождения амплитуд дифрагированных пучков 120
§ 5.4. Многолучевые изображения структуры 126
§ 5.5. Динамические расчеты и взаимосвязь между алгоритмами расчета 131
§ 5.6. Интерпретация изображений кристалла германия 136
§ 5.7. Изображения дефектов в твердых телах 143
§ 5.8. Экспериментальные особенности получения многолучевых изображений решетки 152
§ 5.9. Применение изображений решетки 161
§ 5.10. Получение изображений решетки в сканирующей просвечивающей электронной микроскопии . 164
§ 5.11. Выводы 170
 
Глава 6. Непериодические объекты 172
§ 6.1. Фазовый и амплитудный контраст 173
§ 6.2. Светлопольные изображения одиночных атомов 177
§ 6.3. Использование более высокого ускоряющего напряжения . . 187
§ 6.4. Контраст и атомный номер 191
§ 6.5. Темнопольные методики 193
§ 6.6. Неупругое рассеяние 198
§ 6.7. Моделирование изображений 203
§ 6.8. Шум и информация 206
§ 6.9. Микроскопия при минимальных дозах облучения 210
§ 6.10. Выводы 214
 
Глава 7. Источники электронов и система освещения 217
§ 7.1. Система освещения 218
§ 7.2. Яркость и ее измерение 220
§ 7.3. Роль напряжения смещения в стабилизации высокого напряжения 223
§ 7.4. У-образные катоды 226
§ 7.5. Точечные катоды 227
§ 7.6. Источники из гексаборида лантана 230
§ 7.7. Автоэлектронные источники 231
 
Глава 8. Измерение электронно-оптических параметров, влияющих на качество изображений, получаемых с высоким разрешением . 233
§ 8.1. Приращения фокусного расстояния объективной линзы . . . 233
§ 8.2. Коэффициент сферической аберрации 235
§ 8.3. Калибровка увеличения 238
§ 8.4. Измерение тока объективной линзы 241
§ 8.5. Коэффициент хроматической аберрации 241
§ 8.6. Астигматическая разность 242
§ 8.7. Измерения на оптическом дифрактометре 243
§ 8.8. Поперечная длина когерентности 248
§ 8.9. Длина электронной волны и длина камеры 251
§ 8.10. Разрешение 252
 
Глава 9. Нестабильности 258
§ 9.1. Магнитные поля 258
§ 9.2. Нестабильность высокого напряжения 261
§ 9.3. Вибрации 263
§ 9.4. Смещение образца 264
§ 9.5. Загрязнение образца и вакуумная система 267
 
Глава 10. Методика эксперимента 269
§ 10.1. Коррекция астигматизма 270
§ 10.2. Фотографирование 271
§ 10.3. Пример получения и фотографирования изображений плоскостей решетки 275
§ 10.4. Уточнение ориентации кристаллов при использовании гонио¬метров с осью наклона, не лежащей в плоскости исследуемого участка образца 284
§ 10.5. Методики фокусировки 287
§  10.6. Пленки-подложки 290
§ 10.7. Методика фотографирования и изучение микрофотографий . 292
§ 10.8. Эмульсии для обычной просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения 296
§ 10.9. Вспомогательное оборудование для обычной просвечивающейэлектронной микроскопии высокого разрешения 298
§ 10.10. Проверка состояния микроскопа для работы с высоким разрешением 300
 
Приложения
1. Программа для расчета дефокусировки и коэффициента сферической аберрации по радиусам колец 301
2. Использование функции поглощения для описания эффектов, связанных с объективной диафрагмой 304
3. Факторы, ограничивающие разрешение, и их зависимость от длины волны электрона 305
4. Что такое изображение структуры? 312
Список литературы 313

 

Характеристики +
В наличност
Да
Език
Руски
Автор (А-Я)
Дж. Спенс
Издателство (А-Я)
Наука
Етикет
Приложна физика
Град
Москва
Година
1986
Страници
320
Състояние
неизползвана книга
ЗАБЕЛЕЖКА
книга с посвещение за заслуги в отлично състояние
Националност
английска
Корица
твърда
Формат
среден
Размери (мм)
145 х 220 х 17
Тегло (грама)
444
Условия за пазаруване +

Моля, след направена поръчка, очаквайте обаждане по телефона за потвърждение!

 

  • 5.00 лв. - минимална стойност на покупка в сайта (не важи за покупка с лично предаване)
  • 5.00 лв. - доставка до офис на Еконт (препоръчително) или Спиди (в краен случай), над 60 лв. - безплатна доставка.
  • 6.50 лв. - доставка до адрес с Еконт (препоръчително) или Спиди (в краен случай).
  • 0 лв. - лично предаване за клиенти от София (виж по-долу)
  • 10% - отстъпка при покупка на стойност над 20 лв. , видима в процеса на пазаруване.

 

За клиенти с поне три покупки (закупили продуктите си с регистрация), може да се определи постоянна персонална отстъпка с код за отстъпка за бъдещо пазаруване, независимо от стойността на покупката.

За пазаруващите само с "Бърза поръчка", не се предлага код за постоянна отстъпка.

 

Поръчки направени до 17.00 ч. в делничен ден - за София и страната, обикновено се изпращат в същия ден и се доставят на следващия, или според графика на куриерската фирма. При пристигането на пратката в офиса на Еконт клиентите, направили поръчка с регистрация, получават имейл и SMS, а с "Бърза поръчка" - само SMS. 

След преглед на пратката в присъствието на куриера, се заплаща наложен платеж. Към книгите от всяка поръчка се издава фискален бон, а при заявено желание и опростена фактура, както на фирми, така и на физически лица.

Ако доставеното не отговаря на описаното състояние при поръчката, то клиента се освобождава от заплащане на пратката в двете посоки, след разговор по телефона с подателя.

Ако клиента след преглед прецени, че доставеното не му е необходимо, то той следва да го върне на подателя, като заплати пощенските разходи в двете посоки.

 

За София - лично предаване

 

Среща с предварителна уговорка на две места в кв. Орландовци:

1. За пристигащите с трамвай (№ 3, 4 или 18): трамвайна спирка "Католически гробищен парк" (виж на картата) около 7-9 мин от пл. Лъвов мост.

2. За пристигащите с автомобил: кв. Орландовци, ул. Железопътна 18, пред магазин Билла (виж на картата) 

Предимствата на този начин за получаване: възможност за внимателно разглеждане на книгите, получаване в същия ден и спестяване на пощенските разходи.

 

За чужбина (for abroad) 

Български пощи

 

Bulgarian Post / Български пощи /Neighboring countries - Greece, Republic of North Macedonia, Roumanie, Serbie, Turquie)

Bulgarian Post / Български пощи - All other European countries

Bulgarian Post / Български пощи - Outside European countries

 

ЦЕНИ ЗА ТЕГЛО НА ПРАТКИ С ПРЕДИМСТВО И ПРЕПОРЪКА - ЦЕНА (лева) 

PRICES FOR WEIGHT OF SHIPMENTS WITH ADVANTAGE AND RECOMMENDATION - PRICE (BGN)

EUR/BGN - 0.51 (1 EUR = 1.95583 BGN)

PAYMENT BY REVOLUT, BANK PAYMENT OR WESTERN UNION

Цените влизат в сила от 01.12.2024 г.

Тегло (грама)

Weight (gram)

Съседни държави

Neighboring countries

Европа

All other European countries

Извън Европа

Outside European countries
 

151 - 250

12.10

13.60

15.20

251 - 350

14.05

15.65

16.90

351 - 500

15.60

18.15

20.60

501 - 1000

20.90

26.05

29.60

1001 - 2000

30.10

38.60

41.60

2001 - 3000

38.10

48.10

51.60

3001 - 4000

46.40

58.60

63.60

4001 - 5000

54.60

63.60

74.60

 

Продукти от същата категория

Ревюта

( )
Оценете

Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения (1986)

Вашата оценка
Име:
Заглавие на ревюто:
Мнение:

Грешка при изпращане на оценката.

Все още няма ревюта за този продукт
Добави Ревю

Вашето ревю беше изпратено успешно!

Бърза поръчка Без формалности
Вашата поръчка е приета. Очаквайте обаждане!