Методы прямого наблюдения дислокаций (1968)

Продукти
КНИГИ
+
39,95 лв.
  • Издателство: Мир
КУПИ с регистрация ИЛИ с БЪРЗА поръчка
Моля, изберете:
Продуктът е успешно добавен в количката

Методи за директно наблюдение на дислокации (преводна книга от английски на руски език)

 

А. Амелинкс  (автор)

 

Издателство:   Мир
Език: руски език
Раздел: Физика и астрономия
Преводач: В. М. Кардонский
Етикет: приложна физика

 

Твърда корица, среден формат  |  440 стр. |  632 гр.

(неизползвана книга в отлично състояние)

 

*

 

АННОТАЦИЯ

 

Книга написана известным бельгийским физиком С. Амелинксом, автором многочисленных работ по исследованию дислока­ций, и посвящена физическим основам методов непосредственного наблюдения дислокаций. Подробно изложены методы избиратель­ного травления, декорирования, рентгеновской дифракцион­ной топографии и особенно просвечивающей электронной микро­скопии. Каждый из рассмотренных методов иллюстрируется боль­шим количеством экспериментальных данных. Весьма подробно рассматривается теория формирования дифракционного кон­траста, обусловленного наличием дислокаций и дефектов упа­ковки.

 

Книга рассчитана на широкий круг инженеров и физиков как теоретиков, так и экспериментаторов, работающих в раз­личных областях физики твердого тела, а также аспирантов и студентов старших курсов как дополнительное пособие по экс­периментальным методам физики дислокаций.

 

**

 

ОГЛАВЛЕНИЕ
 
Предисловие   переводчика 5
 
Литература 9
 
Предисловие  автора 11
 
Литература 12
 
 
Глава   1. Методы наблюдения дислокаций на поверхности и в объеме кристаллов 13
 
§   1. Избирательное    травление 13
§   2. Декорирование дислокаций 42
§   3. Методы   рентгеновской   дифракции 75
 
 
Глава  2. Метод наблюдения дислокаций в тонких фольгах: просвечивающая электронная микроскопия. Теория метода 91
 
§   1. Введение 91
§   2. Введение   в   дифракцию 97
§   3. Происхождение   контраста,   обусловленного несовершенствами  кристаллического строения 108
§   4. Дифракция на несовершенных кристаллах (кинематическая теория) 115
§   5. Динамическая   теория 148
§   6. Применение профилей интенсивности в эксперименте  169
§   7. Динамическая  теория  контраста,  обусловленного дефектами упаковки 175
§   8. Контраст, обусловленный дислокациями. Учет поглощения 194
 
 
Глава  3. Применение просвечивающей электронной микроскопии при   исследовании  дислокаций 217
 
§ 1. Частичные дислокации в полоске дефекта упаковки 217
§ 2. Дислокационные реакции в различных структурах . 265
§ 3. Дислокационные сетки в различных структурах 274
§ 4. Дислокации,    образующиеся   в   результате агломерации точечных дефектов 287
§ 5. Деформация объектов в электронном микроскопе 327
§ 6. Распределение дислокаций в деформированных металлах 331
§ 7. Механическое двойникование 336
§ 8. Рекристаллизация 338
§ 9. Фазовые превращения в кобальте и сульфиде цинка  340
§ 10. Взаимодействие   включений  и  дислокаций; геликоидальные  дислокации 340
§ 11. Эффекты   тонкой   пластинки 345
§ 12. Некоторые   другие   вопросы 351
 
 
Глава  4. Непосредственное разрешение   кристаллической решетки.   Картины муара 364
 
§ 1. Непосредственное   разрешение   кристаллической решетки
§ 2. Картины   муара 373
 
Приложение А. Свойства контуров, обусловленных дефектами упаковки.    Учет    аномального    поглощения 393
Приложение Б. Симметрия изображения дислокации для случая 5 = 0 в отсутствие поглощения .... 411
Приложение В. Вывод матрицы рассеяния 412
 
Литература  419

 

***

 

ПРЕДИСЛОВИЕ ПЕРЕВОДЧИКА

 

При изучении реальных кристаллов еще совсем недавно свойства дефектов кристаллического строения оценивались лишь по данным измерений макроскопических характеристик. В последнее же время все большее значение приобретают методы, позволяющие «непосред­ственно» наблюдать и исследовать отдельные структурные дефекты, в частности дислокации. Хотя такие методы разработаны сравни­тельно недавно (примерно в 50-е годы), с их помощью уже провере­ны основные положения теории дислокаций и изучены важнейшие структурно-чувствительные свойства и процессы. Помимо научного интереса, развитие таких работ стимулируется требованиями техни­ческой практики. Число публикаций о ведущихся исследованиях и их применениях растет из года в год (см., например, библиографи­ческий сборник [1]). В Советском Союзе в последние годы резко возросло количество и качество работ, выполненных методами прямого наблюдения дислокаций, возрос интерес к их теоретическо­му обоснованию.

 

К настоящему времени разработаны и успешно применяются раз­личные методы «прямого» наблюдения дислокаций. Из числа наибо­лее распространенных можно назвать избирательное травление, декорирование, рентгеновскую топографию (рентгеновскую дифрак­ционную микроскопию) и, наконец, просвечивающую электронную микроскопию. Области применения этих методов различны. Их тео­ретические обоснования и описания экспериментальной процедуры разбросаны по отдельным статьям. Поэтому давно уже возникла необходимость в монографии, содержащей подробное описание основных методов непосредственного наблюдения дислокаций со сводкой наиболее существенных результатов. Необходимо подчерк­нуть также, что для анализа и интерпретации результатов, полу­чаемых любыми методами и особенно электронно-микроскопически­ми, значительно возросла роль теории процессов и явлений, лежащих в их основе (характерным примером может служить работа [2] по исследованию аустенитной стали).

 

Хотя основы теории изображения освещены в имеющейся на русском языке литературе [3—5], а в сборниках переводных статей [7, 8] и обзоре [9] затрагиваются отдельные, в основном дифракционные, методы исследования дислокаций, потребность в системати­ческом изложении всех основных методов, по-видимому, сохраняется.

 

Предлагаемая нашим читателям в переводе книга бельгийского физика Амелинкса в значительной мере отвечает поставленным выше требованиям, что и послужило основанием к выбору ее для издания. Эта книга является, по-видимому, первой и пока един­ственной монографией, посвященной рассмотрению практически всех методов «непосредственного» наблюдения дислокаций. Автор книги хорошо известен своими, ставшими уже классическими, рабо­тами в области экспериментального исследования дислокаций; им лично или при его активном участии было разработано и применено большинство экспериментальных методов выявления дислокаций.

 

Книга состоит из четырех глав и трех приложений х).

 

Первая глава книги посвящена методам, которые дают возмож­ность выявить отдельные дислокации в относительно массивных образцах. Это методы избирательного травления, декорирования и рентгеновской дифракционной микроскопии. Возможности этих методов и их применение к различным материалам рассматривались в имеющейся литературе на русском языке [7, 8, 10]. Но в книге Амелинкса изложение всех этих методов сведено воедино, причем большое внимание уделено экспериментальной технике.

 

К сожалению, автор мало места уделил теоретическому обосно­ванию методов, которое в большинстве своем сводится к сугубо качественным рассуждениям. Отметим, кстати, что для метода изби­рательного травления, например, существует достаточно убедитель­ная теория [10, 11].

 

Для теоретического построения изображения в случае дифрак­ционных методов обычно прибегают к так называемому колонковому приближению (см., например, [8, 131). При этом кристалл «раз­бивается» на тонкие колонки, в основании которых подсчитывается интенсивность волны, рассеянной каждой данной колонкой. «По­строенное» таким путем теоретическое «клише» сравнивается с изоб­ражениями, полученными в эксперименте. Однако, как показывает анализ [12, 13], подобный метод построения изображения дислока­ций практически неприменим в случае рентгеновских лучей (он пригоден только] для электронной микроскопии). Поэтому рентге­новские методы непосредственного   выявления дислокаций прогрессируют в основном по линии усовершенствования старых и раз­работки новых методов. К числу последних следует отнести не упомянутый в книге метод Лэнга [14], который дает возможность получать топограммы внутренних областей кристалла (метод «ограниченных проекционных топограмм»).

 

Вторая глава, наиболее интересная, посвящена методу просве­чивающей электронной микроскопии (метод тонких фольг). Предпо­лагается, что читатель знаком с техникой получения электронно-микроскопических изображений (см., например, [3—6]). Здесь рассматриваются основные типы дислокаций и почти все возмож­ные случаи их расположения. Большое внимание уделяется изображению дефектов упаковки [1]). Хорошей особенностью изложе­ния является то, что почти во всех случаях оно проводится в три этапа. Сначала излагается «качественная» теория, дающая физиче­ское представление (иногда, правда, слишком упрощенное) о явле­нии. Потом рассматривается кинематическое, а затем и динамическое приближения. При изложении динамической теории указывается несколько способов решения уравнения Шредингера (в том числе с учетом поглощения).

 

Весьма полезным является изложение способа графического построения в комплексной плоскости, предложенного Джеверсом, который позволяет очень легко, без сложной математической обра­ботки предсказать особенности ожидаемого контраста.

 

При интерпретации электронно-микроскопических изображений тонких фольг обычно с надлежащими оговорками используется двухволновое приближение, но предположения, лежащие в его осно­ве, редко выполняются на опыте. Поэтому одним из основных направлений теоретических исследований дифракции электронов является создание многоволновой динамической теории. В этом отно­шении интересна работа Хамфриса и Хауи [15].

 

Другое направление — создание релятивистской теории дифрак­ции электронов, необходимость в которой связана с появлением микроскопов с ускоряющим напряжением 500, 1000 кв и выше (см., например, [16]). Больших успехов здесь добились японские исследователи [17].

 

Среди работ, относящихся к рассматриваемой теме, вышедших в свет позже книги Амелинкса, необходимо указать исследо­вания, в которых принимал участие автор книги [18, 29—32], ибо они представляют собой прекрасное сочетание теории с тонким физическим экспериментом.

 

Третья глава книги посвящена применению метода просвечи­вающей электронной микроскопии к исследованию конкретных дислокационных проблем. В начале главы подробно, с большим числом прекрасных иллюстраций рассматриваются полоски дефек­тов упаковки, дислокационные сетки и реакции в различных кристаллических структурах. Наиболее детально рассмотрены исследованные автором слоистые структуры. Довольно подробно говорится о дефектах, образующихся при агломерации точечных дефектов, геликоидальных дислокациях и т. д.

 

Известно, что поле напряжений, вызванное наличием дислока­ции, зависит от положения дислокации по отношению к поверхности кристалла. Поэтому при изменении расстояния от поверхности меняется форма дислокации (или полоски дефекта упаковки). Осо­бенно разителен этот эффект при располождении дислокации под поверхностной ступенькой — наблюдается излом дислокации или скачкообразное изменение ширины дефекта упаковки. Этому вопро­су отведен отдельный параграф третьей главы.

 

Четвертая глава посвящена непосредственному разрешению дислокаций в кристаллической решетке и картинам муара. Пос­ле работ Ментера и Дауэла [19, 20] возник вопрос о непосред­ственном наблюдении линий дислокаций. С течением времени по мере улучшения конструкции электронных микроскопов стало возможным на основе методики Дауэла получать изображения проекций кристалла, соответствующих межплоскостным расстоя­ниям порядка одного ангстрема. Автор на основе двухволновой динамической теории описывает построение профилей таких изо­бражений, причем рассматривает важные случаи клиновидного и изогнутого кристаллов; рассматриваются также применения метода [1]).

 

В настоящее время большое внимание уделяется исследованию дефектов структуры напыленных пленок (см., например, работы Л. С. Палатника с сотрудниками [21]). Одним из эффективных способов исследования таких объектов является метод муара. Он заключается в исследовании «сандвичей»— двух пленок, подобранных и ориенти­рованных таким образом, что получается некое «геометрическое» увеличение, которое в совокупности с электронно-микроскопиче­ским увеличением позволяет разрешить кристаллическую решетку и ее дефекты. Поэтому весьма актуально изложение вопроса о муаровых изображениях, реализуемых в электронном микроскопе (тем более, что на русском языке этот вопрос, очевидно, впервые изложен столь обстоятельно). Как и раньше, описание разбивается на качественную и количественную теории картин муара. Детально исследуется в кинематическом и динамическом приближениях рас­пределение интенсивности по контуру. Анализируется связь картин муара с наличием дислокаций.

 

В приложениях рассматриваются свойства контуров, обуслов­ленных дефектами упаковки, симметрия изображения дисклокации и приводится вывод матрицы рассеяния.

 

Одной из трудностей, возникших при переводе книги, явилось отсутствие в русском научном языке некоторых специфических дислокационных терминов. Большинство использованных терминов соответствует принятым в переводе монографии Фриделя [22] и сло­варю, приведенному в переводе книги Ван Бюрена [23], в осталь­ных случаях был дан смысловой перевод.

 

За период, прошедший с момента выхода американского издания книги, получено, разумеется, много новых результатов, но это главным образом работы по применению описываемых в книге методов при исследовании тех или иных конкретных задач. Теория этих методов развивается пока медленно; работ в этом направлении немного. Тем не менее, чтобы облегчить читателям знакомство с исследованиями этого периода, библиография, приведенная авто­ром, значительно дополнена работами 1963—1966 гг., которые в известной мере отражают состояние и уровень экспериментальных и теоретических исследований на сегодняшний день.

 

В. М. Кардонский

 

--------------

 

х) При переводе книги было изменено распределение материала по гла­вам, так чтобы оно лучше соответствовало логике изложения, и сделаны незначительные сокращения. Автор в оригинальном издании, по-видимому, для полноты очень кратко описал ряд малоэффективных или почти не при­меняемых в настоящее время методов (спирали роста, испарение, ступеньки скола, фотоупругость и др.); именно эти страницы и были опущены при переводе. Заодно опущено и беглое упоминание об автоионной микроско­пии; относительно возможностей этого метода см. работы [25—28].

 

[1]Хотя книга посвящена методам наблюдения дислокаций, в ней зна­чительный объем занимает рассмотрение контраста, обусловленного дефекта­ми упаковки, поскольку дефект упаковки является звеном, связывающим частичные дислокации.

 

[1]В упоминавшейся работе [18], например, на основе аналогичной мето­дики были получены изображения структур Та205 и ЫЬ205, а также отдель­ных дислокаций.

Характеристики
В наличност:
Да
Оригинално заглавие
THE DIRECT OBSERVATION OF DISLOCATIONS S. AMELINCKX Departement Fysika Vaste Stof Studiecentrum voor Kernenergie Mol-Donk, Belgium ACADEMIC PRESS New York and London 1964
Език
руски
Автор
А. Амелинкс
Издателство
Мир
Етикети
приложна физика
Преводач
В. М. Кардонский
Град
Москва
Година
1967
Страници
440
Състояние
неизползвана книга
ЗАБЕЛЕЖКА
книга в отлично състояние
Националност
белгийска
Корица
твърда
Формат
среден
Ширина (мм)
150
Височина (мм)
220
Дебелина (мм)
22
Тегло (гр.)
632
Отстъпки, доставка, плащане

Непотвърдена от клиента по телефона поръчка, не се обработва! (след 3 дни опити за връзка с клиента се анулира)

 

Отстъпки, доставка, плащане

При покупка на стойност:

  • Над 20 лв., отстъпка от 10%, видима в процеса на пазаруване.
  • До 60 лв. - доставка до офис на Еконт - 5 лв., над 60 лв. - безплатна доставка
  • Доставка до адрес с Еконт - 6.00 лв., независимо от теглото на книгите и стойността на поръчката
  • От 20 до 60 лв. - доставка до офис на Спиди 5 лв., поръчки под 20 лв могат да се доставят само с Еконт. Над 60 лв. - безплатна доставка
  •  Доставка до адрес със Спиди за поръчки над 20 лв.- 6.00 лв., независимо от теглото на книгите и стойността на поръчката. Поръчки под 20 лв могат да бъдат доставени само с Еконт.

 

Срок за доставка до офис на  Еконт или Спиди: Поръчваш днес, получаваш утре!

 

За редовни клиенти, закупили книгите си с регистрация, се определя персонална отстъпка с код за отстъпка, за пазаруване независимо от стойността на покупката.

За пазаруващите само с "Бърза поръчка", не се предлага код за постоянна отстъпка, поради невъзможността да бъде вписан такъв.

 

 

Поръчки направени до 17.00 ч. в делничен ден - за София и страната, обикновено се изпращат в същия ден и се доставят на следващия, или според графика на куриерската фирма. При пристигането на пратката в офиса на Еконт клиентите, направили поръчка с регистрация, получават имейл и SMS, а с "Бърза поръчка" - само SMS. 

 

След преглед на пратката в присъствието на куриера, се заплаща наложен платежКъм книгите от всяка поръчка се издава фискален бон, а при заявено желание и опростена фактура, както на фирми, така и на физически лица.

Ако книгата или книгите не отговарят на описаното състояние при поръчката, то той се освобождава от заплащане на пратката в двете посоки, след разговор по телефона с подателя.

Ако клиента след преглед прецени, че книгата или книгите не са му необходими, то той следва да ги върне на подателя, като заплати пощенските разходи в двете посоки.

 

 

За София - лично предаване

 

Среща с предварителна уговорка на две места в кв. Орландовци:

1. За пристигащите с трамвай (№ 3, 4 или 18): трамвайна спирка "Католически гробищен парк" (виж на картата) около 7-9 мин от пл. Лъвов мост.

2. За пристигащите с автомобил: кв. Орландовци, ул. Железопътна 18, пред магазин Билла (виж на картата) 

Предимствата на този начин за получаване: възможност за внимателно разглеждане на книгите, получаване в същия ден и спестяване на пощенските разходи.

 

 

За чужбина (for abroad) 

 

Български пощи

 

След уточняване на всички подробности и потвърждение от страна на клиента.

Бърза поръчка Без формалности
Вашата поръчка е приета. Очаквайте обаждане!