Всички Категории
Каталог
КНИГИ
Каталог
КНИГИ

Методы прямого наблюдения дислокаций (1968)

  • Издателство: Мир

Методы прямого наблюдения дислокаций (1968)

  • Издателство: Мир

Методи за директно наблюдение на дислокации (преводна книга от английски на руски език)

А. Амелинкс  (автор)   |   приложна физика  (етикет)

Издателство:   Мир
Език: Руски
Раздел: Физика и астрономия
Преводач: В. М. Кардонский

 

Твърда корица, среден формат   |   440 стр.   |   632 гр.

(неизползвана книга в отлично състояние)

Описание
Характеристики
Условия за пазаруване
Описание +

Оригинално заглавие:

THE DIRECT OBSERVATION OF DISLOCATIONS S. AMELINCKX

Departement Fysika Vaste Stof Studiecentrum voor Kernenergie Mol-Donk, Belgium ACADEMIC PRESS New York and London 1964

*

АННОТАЦИЯ

Книга написана известным бельгийским физиком С. Амелинксом, автором многочисленных работ по исследованию дислока­ций, и посвящена физическим основам методов непосредственного наблюдения дислокаций. Подробно изложены методы избиратель­ного травления, декорирования, рентгеновской дифракцион­ной топографии и особенно просвечивающей электронной микро­скопии. Каждый из рассмотренных методов иллюстрируется боль­шим количеством экспериментальных данных. Весьма подробно рассматривается теория формирования дифракционного кон­траста, обусловленного наличием дислокаций и дефектов упа­ковки.

Книга рассчитана на широкий круг инженеров и физиков как теоретиков, так и экспериментаторов, работающих в раз­личных областях физики твердого тела, а также аспирантов и студентов старших курсов как дополнительное пособие по экс­периментальным методам физики дислокаций.

**

ОГЛАВЛЕНИЕ
 
Предисловие переводчика 5
Литература 9
Предисловие  автора 11
Литература 12
 
Глава 1. Методы наблюдения дислокаций на поверхности и в объеме кристаллов 13
§   1. Избирательное    травление 13
§   2. Декорирование дислокаций 42
§   3. Методы   рентгеновской   дифракции 75
 
Глава 2. Метод наблюдения дислокаций в тонких фольгах: просвечивающая электронная микроскопия. Теория метода 91
§   1. Введение 91
§   2. Введение   в   дифракцию 97
§   3. Происхождение   контраста,   обусловленного несовершенствами  кристаллического строения 108
§   4. Дифракция на несовершенных кристаллах (кинематическая теория) 115
§   5. Динамическая   теория 148
§   6. Применение профилей интенсивности в эксперименте  169
§   7. Динамическая  теория  контраста,  обусловленного дефектами упаковки 175
§   8. Контраст, обусловленный дислокациями. Учет поглощения 194
 
Глава  3. Применение просвечивающей электронной микроскопии при   исследовании  дислокаций 217
§ 1. Частичные дислокации в полоске дефекта упаковки 217
§ 2. Дислокационные реакции в различных структурах . 265
§ 3. Дислокационные сетки в различных структурах 274
§ 4. Дислокации,    образующиеся   в   результате агломерации точечных дефектов 287
§ 5. Деформация объектов в электронном микроскопе 327
§ 6. Распределение дислокаций в деформированных металлах 331
§ 7. Механическое двойникование 336
§ 8. Рекристаллизация 338
§ 9. Фазовые превращения в кобальте и сульфиде цинка  340
§ 10. Взаимодействие   включений  и  дислокаций; геликоидальные  дислокации 340
§ 11. Эффекты   тонкой   пластинки 345
§ 12. Некоторые   другие   вопросы 351
 
Глава  4. Непосредственное разрешение   кристаллической решетки.   Картины муара 364
§ 1. Непосредственное   разрешение   кристаллической решетки
§ 2. Картины   муара 373
 
Приложение А. Свойства контуров, обусловленных дефектами упаковки.    Учет    аномального    поглощения 393
Приложение Б. Симметрия изображения дислокации для случая 5 = 0 в отсутствие поглощения .... 411
Приложение В. Вывод матрицы рассеяния 412
 
Литература  419

***

ПРЕДИСЛОВИЕ ПЕРЕВОДЧИКА

При изучении реальных кристаллов еще совсем недавно свойства дефектов кристаллического строения оценивались лишь по данным измерений макроскопических характеристик. В последнее же время все большее значение приобретают методы, позволяющие «непосред­ственно» наблюдать и исследовать отдельные структурные дефекты, в частности дислокации. Хотя такие методы разработаны сравни­тельно недавно (примерно в 50-е годы), с их помощью уже провере­ны основные положения теории дислокаций и изучены важнейшие структурно-чувствительные свойства и процессы. Помимо научного интереса, развитие таких работ стимулируется требованиями техни­ческой практики. Число публикаций о ведущихся исследованиях и их применениях растет из года в год (см., например, библиографи­ческий сборник [1]). В Советском Союзе в последние годы резко возросло количество и качество работ, выполненных методами прямого наблюдения дислокаций, возрос интерес к их теоретическо­му обоснованию.

К настоящему времени разработаны и успешно применяются раз­личные методы «прямого» наблюдения дислокаций. Из числа наибо­лее распространенных можно назвать избирательное травление, декорирование, рентгеновскую топографию (рентгеновскую дифрак­ционную микроскопию) и, наконец, просвечивающую электронную микроскопию. Области применения этих методов различны. Их тео­ретические обоснования и описания экспериментальной процедуры разбросаны по отдельным статьям. Поэтому давно уже возникла необходимость в монографии, содержащей подробное описание основных методов непосредственного наблюдения дислокаций со сводкой наиболее существенных результатов. Необходимо подчерк­нуть также, что для анализа и интерпретации результатов, полу­чаемых любыми методами и особенно электронно-микроскопически­ми, значительно возросла роль теории процессов и явлений, лежащих в их основе (характерным примером может служить работа [2] по исследованию аустенитной стали).

Хотя основы теории изображения освещены в имеющейся на русском языке литературе [3—5], а в сборниках переводных статей [7, 8] и обзоре [9] затрагиваются отдельные, в основном дифракционные, методы исследования дислокаций, потребность в системати­ческом изложении всех основных методов, по-видимому, сохраняется.

Предлагаемая нашим читателям в переводе книга бельгийского физика Амелинкса в значительной мере отвечает поставленным выше требованиям, что и послужило основанием к выбору ее для издания. Эта книга является, по-видимому, первой и пока един­ственной монографией, посвященной рассмотрению практически всех методов «непосредственного» наблюдения дислокаций. Автор книги хорошо известен своими, ставшими уже классическими, рабо­тами в области экспериментального исследования дислокаций; им лично или при его активном участии было разработано и применено большинство экспериментальных методов выявления дислокаций.

Книга состоит из четырех глав и трех приложений .

Первая глава книги посвящена методам, которые дают возмож­ность выявить отдельные дислокации в относительно массивных образцах. Это методы избирательного травления, декорирования и рентгеновской дифракционной микроскопии. Возможности этих методов и их применение к различным материалам рассматривались в имеющейся литературе на русском языке [7, 8, 10]. Но в книге Амелинкса изложение всех этих методов сведено воедино, причем большое внимание уделено экспериментальной технике.

К сожалению, автор мало места уделил теоретическому обосно­ванию методов, которое в большинстве своем сводится к сугубо качественным рассуждениям. Отметим, кстати, что для метода изби­рательного травления, например, существует достаточно убедитель­ная теория [10, 11].

Для теоретического построения изображения в случае дифрак­ционных методов обычно прибегают к так называемому колонковому приближению (см., например, [8, 131). При этом кристалл «раз­бивается» на тонкие колонки, в основании которых подсчитывается интенсивность волны, рассеянной каждой данной колонкой. «По­строенное» таким путем теоретическое «клише» сравнивается с изоб­ражениями, полученными в эксперименте. Однако, как показывает анализ [12, 13], подобный метод построения изображения дислока­ций практически неприменим в случае рентгеновских лучей (он пригоден только] для электронной микроскопии). Поэтому рентге­новские методы непосредственного   выявления дислокаций прогрессируют в основном по линии усовершенствования старых и раз­работки новых методов. К числу последних следует отнести не упомянутый в книге метод Лэнга [14], который дает возможность получать топограммы внутренних областей кристалла (метод «ограниченных проекционных топограмм»).

Вторая глава, наиболее интересная, посвящена методу просве­чивающей электронной микроскопии (метод тонких фольг). Предпо­лагается, что читатель знаком с техникой получения электронно-микроскопических изображений (см., например, [3—6]). Здесь рассматриваются основные типы дислокаций и почти все возмож­ные случаи их расположения. Большое внимание уделяется изображению дефектов упаковки [1]). Хорошей особенностью изложе­ния является то, что почти во всех случаях оно проводится в три этапа. Сначала излагается «качественная» теория, дающая физиче­ское представление (иногда, правда, слишком упрощенное) о явле­нии. Потом рассматривается кинематическое, а затем и динамическое приближения. При изложении динамической теории указывается несколько способов решения уравнения Шредингера (в том числе с учетом поглощения).

Весьма полезным является изложение способа графического построения в комплексной плоскости, предложенного Джеверсом, который позволяет очень легко, без сложной математической обра­ботки предсказать особенности ожидаемого контраста.

При интерпретации электронно-микроскопических изображений тонких фольг обычно с надлежащими оговорками используется двухволновое приближение, но предположения, лежащие в его осно­ве, редко выполняются на опыте. Поэтому одним из основных направлений теоретических исследований дифракции электронов является создание многоволновой динамической теории. В этом отно­шении интересна работа Хамфриса и Хауи [15].

Другое направление — создание релятивистской теории дифрак­ции электронов, необходимость в которой связана с появлением микроскопов с ускоряющим напряжением 500, 1000 кв и выше (см., например, [16]). Больших успехов здесь добились японские исследователи [17].

Среди работ, относящихся к рассматриваемой теме, вышедших в свет позже книги Амелинкса, необходимо указать исследо­вания, в которых принимал участие автор книги [18, 29—32], ибо они представляют собой прекрасное сочетание теории с тонким физическим экспериментом.

Третья глава книги посвящена применению метода просвечи­вающей электронной микроскопии к исследованию конкретных дислокационных проблем. В начале главы подробно, с большим числом прекрасных иллюстраций рассматриваются полоски дефек­тов упаковки, дислокационные сетки и реакции в различных кристаллических структурах. Наиболее детально рассмотрены исследованные автором слоистые структуры. Довольно подробно говорится о дефектах, образующихся при агломерации точечных дефектов, геликоидальных дислокациях и т. д.

Известно, что поле напряжений, вызванное наличием дислока­ции, зависит от положения дислокации по отношению к поверхности кристалла. Поэтому при изменении расстояния от поверхности меняется форма дислокации (или полоски дефекта упаковки). Осо­бенно разителен этот эффект при располождении дислокации под поверхностной ступенькой — наблюдается излом дислокации или скачкообразное изменение ширины дефекта упаковки. Этому вопро­су отведен отдельный параграф третьей главы.

Четвертая глава посвящена непосредственному разрешению дислокаций в кристаллической решетке и картинам муара. Пос­ле работ Ментера и Дауэла [19, 20] возник вопрос о непосред­ственном наблюдении линий дислокаций. С течением времени по мере улучшения конструкции электронных микроскопов стало возможным на основе методики Дауэла получать изображения проекций кристалла, соответствующих межплоскостным расстоя­ниям порядка одного ангстрема. Автор на основе двухволновой динамической теории описывает построение профилей таких изо­бражений, причем рассматривает важные случаи клиновидного и изогнутого кристаллов; рассматриваются также применения метода [1]).

В настоящее время большое внимание уделяется исследованию дефектов структуры напыленных пленок (см., например, работы Л. С. Палатника с сотрудниками [21]). Одним из эффективных способов исследования таких объектов является метод муара. Он заключается в исследовании «сандвичей»— двух пленок, подобранных и ориенти­рованных таким образом, что получается некое «геометрическое» увеличение, которое в совокупности с электронно-микроскопиче­ским увеличением позволяет разрешить кристаллическую решетку и ее дефекты. Поэтому весьма актуально изложение вопроса о муаровых изображениях, реализуемых в электронном микроскопе (тем более, что на русском языке этот вопрос, очевидно, впервые изложен столь обстоятельно). Как и раньше, описание разбивается на качественную и количественную теории картин муара. Детально исследуется в кинематическом и динамическом приближениях рас­пределение интенсивности по контуру. Анализируется связь картин муара с наличием дислокаций.

В приложениях рассматриваются свойства контуров, обуслов­ленных дефектами упаковки, симметрия изображения дисклокации и приводится вывод матрицы рассеяния.

Одной из трудностей, возникших при переводе книги, явилось отсутствие в русском научном языке некоторых специфических дислокационных терминов. Большинство использованных терминов соответствует принятым в переводе монографии Фриделя [22] и сло­варю, приведенному в переводе книги Ван Бюрена [23], в осталь­ных случаях был дан смысловой перевод.

За период, прошедший с момента выхода американского издания книги, получено, разумеется, много новых результатов, но это главным образом работы по применению описываемых в книге методов при исследовании тех или иных конкретных задач. Теория этих методов развивается пока медленно; работ в этом направлении немного. Тем не менее, чтобы облегчить читателям знакомство с исследованиями этого периода, библиография, приведенная авто­ром, значительно дополнена работами 1963—1966 гг., которые в известной мере отражают состояние и уровень экспериментальных и теоретических исследований на сегодняшний день.

В. М. Кардонский

--------------

х) При переводе книги было изменено распределение материала по гла­вам, так чтобы оно лучше соответствовало логике изложения, и сделаны незначительные сокращения. Автор в оригинальном издании, по-видимому, для полноты очень кратко описал ряд малоэффективных или почти не при­меняемых в настоящее время методов (спирали роста, испарение, ступеньки скола, фотоупругость и др.); именно эти страницы и были опущены при переводе. Заодно опущено и беглое упоминание об автоионной микроско­пии; относительно возможностей этого метода см. работы [25—28].

[1]Хотя книга посвящена методам наблюдения дислокаций, в ней зна­чительный объем занимает рассмотрение контраста, обусловленного дефекта­ми упаковки, поскольку дефект упаковки является звеном, связывающим частичные дислокации.

[1]В упоминавшейся работе [18], например, на основе аналогичной мето­дики были получены изображения структур Та205 и ЫЬ205, а также отдель­ных дислокаций.

Характеристики +
В наличност
Да
Етикети
приложна физика
Език
Руски
Автор (А-Я)
А. Амелинкс
Издателство (А-Я)
Мир
Етикет
приложна физика
Преводач
В. М. Кардонский
Град
Москва
Година
1967
Страници
440
Състояние
неизползвана книга
ЗАБЕЛЕЖКА
книга в отлично състояние
Националност
белгийска
Корица
твърда
Формат
среден
Размери (мм)
150 х 220 х 22
Тегло (грама)
632
Условия за пазаруване +

Моля, след направена поръчка, очаквайте обаждане по телефона за потвърждение!

 

  • 5.00 лв. - минимална стойност на покупка в сайта (не важи за покупка с лично предаване)
  • 5.00 лв. - доставка до офис на Еконт или Спиди, над 60 лв. - безплатна доставка.
  • 6.50 лв. - доставка до адрес с Еконт или Спиди, независимо от теглото и стойността на пратката.
  • 0 лв. - лично предаване за клиенти от София (виж по-долу)
  • 10% - отстъпка при покупка на стойност над 20 лв. , видима в процеса на пазаруване.

 

За клиенти с поне три покупки (закупили продуктите си с регистрация), може да се определи постоянна персонална отстъпка с код за отстъпка за бъдещо пазаруване, независимо от стойността на покупката.

За пазаруващите само с "Бърза поръчка", не се предлага код за постоянна отстъпка.

 

Поръчки направени до 17.00 ч. в делничен ден - за София и страната, обикновено се изпращат в същия ден и се доставят на следващия, или според графика на куриерската фирма. При пристигането на пратката в офиса на Еконт клиентите, направили поръчка с регистрация, получават имейл и SMS, а с "Бърза поръчка" - само SMS. 

След преглед на пратката в присъствието на куриера, се заплаща наложен платеж. Към книгите от всяка поръчка се издава фискален бон, а при заявено желание и опростена фактура, както на фирми, така и на физически лица.

Ако доставеното не отговаря на описаното състояние при поръчката, то клиента се освобождава от заплащане на пратката в двете посоки, след разговор по телефона с подателя.

Ако клиента след преглед прецени, че доставеното не му е необходимо, то той следва да го върне на подателя, като заплати пощенските разходи в двете посоки.

 

За София - лично предаване

 

Среща с предварителна уговорка на две места в кв. Орландовци:

1. За пристигащите с трамвай (№ 3, 4 или 18): трамвайна спирка "Католически гробищен парк" (виж на картата) около 7-9 мин от пл. Лъвов мост.

2. За пристигащите с автомобил: кв. Орландовци, ул. Железопътна 18, пред магазин Билла (виж на картата) 

Предимствата на този начин за получаване: възможност за внимателно разглеждане на книгите, получаване в същия ден и спестяване на пощенските разходи.

 

За чужбина (for abroad) 

Foreign orders will be accepted after 01.10.2024.

Български пощи

 

Bulgarian Post / Български пощи /Neighboring countries - Greece, Republic of North Macedonia, Roumanie, Serbie, Turquie)

Bulgarian Post / Български пощи - All other European countries

Bulgarian Post / Български пощи - Outside European countries

 

ЦЕНИ ЗА ТЕГЛО НА ПРАТКИ С ПРЕДИМСТВО И ПРЕПОРЪКА - ЦЕНА (лева) 

PRICES FOR WEIGHT OF SHIPMENTS WITH ADVANTAGE AND RECOMMENDATION - PRICE (BGN)

EUR/BGN - 0.51 (1 EUR = 1.95583 BGN)

 

 

Тегло (грама)

Weight (gram)

Съседни държави

Neighboring countries

Европа

All other European countries

Извън Европа

Outside European countries
 

151 - 250

11.40

13.10

15.10

251 - 350

12.60

14.60

16.90

351 - 500

14.60

17.60

20.60

501 - 1000

14.50

24.60

29.60

1001 - 2000

20.10

37.60

41.60

2001 - 3000

36.60

46.60

51.60

3001 - 4000

43.60

55.60

63.60

4001 - 5000

51.60

61.60

74.60

 

Продукти от същата категория

Бърза поръчка Без формалности
Вашата поръчка е приета. Очаквайте обаждане!